電壓跌落試驗(yàn)（DIP）是電磁兼容性（EMC）測(cè)試的重要項(xiàng)目，用于評(píng)估電氣電子設(shè)備遭遇電源電壓驟降時(shí)的工作性能與可靠性。依據(jù)國(guó)際電工委員會(huì)（IEC）標(biāo)準(zhǔn)定義：電壓跌落為工頻電壓有效值發(fā)生跌落，電壓降至額定電壓的 10%～90%，持續(xù)時(shí)間為 0.5 個(gè)基波周期至數(shù)十秒，經(jīng)過(guò)該短時(shí)過(guò)程后電壓恢復(fù)至正常水平。該類電壓波動(dòng)既可由電網(wǎng)、配電系統(tǒng)故障引發(fā)，也可來(lái)源于設(shè)備本身的設(shè)計(jì)缺陷或制造問(wèn)題。

一、電壓跌落試驗(yàn)?zāi)康?/strong>

電壓跌落測(cè)試用于考核電路電壓信號(hào)在正常工作條件下的抗擾動(dòng)穩(wěn)定性。在電力領(lǐng)域，該測(cè)試可評(píng)估電網(wǎng)與配電系統(tǒng)的電壓耐受能力，保障供電系統(tǒng)可靠運(yùn)行；在電子設(shè)備研發(fā)領(lǐng)域，則用于驗(yàn)證電子設(shè)備在實(shí)際工況下應(yīng)對(duì)電壓跌落的能力，保障設(shè)備工作可靠。

二、電壓跌落測(cè)試的方法和標(biāo)準(zhǔn)

 電壓跌落測(cè)試的方法

電壓跌落測(cè)試主要借助載波發(fā)生器及高精度測(cè)試儀器完成。測(cè)試過(guò)程中，需為被測(cè)電路接入負(fù)載，通過(guò)載波發(fā)生器模擬電壓跌落擾動(dòng)，觀測(cè)電路電壓變化。測(cè)試儀器可實(shí)時(shí)采集電壓波形，對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行處理與分析，進(jìn)而得到電壓抗擾性能的評(píng)價(jià)指標(biāo)。

依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)

IEC 61000?4?11 / GB/T 17626.11：交流電源端口電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化抗擾度試驗(yàn)。

IEC 61000?4?29 / GB/T 17626.29：直流電源輸入端口電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化抗擾度試驗(yàn)。

電壓暫降測(cè)試等級(jí)采用 % UT 表示，代表暫降發(fā)生后剩余電壓占參考電壓的百分比，常用等級(jí)：0%、40%、70%、80%。

短時(shí)中斷：通常指電源完全失電，持續(xù)時(shí)間為 250 個(gè)基波周期（50Hz）或 300 個(gè)基波周期（60Hz）。

電壓變化：典型工況為電壓驟降至 70% 參考電壓并維持 1 個(gè)周期，再經(jīng)過(guò) 25 個(gè)周期（50Hz）/30 個(gè)周期（60Hz）恢復(fù)至參考電壓。

三、電壓跌落測(cè)試的應(yīng)用

電力領(lǐng)域

電壓跌落測(cè)試在電力領(lǐng)域應(yīng)用廣泛，可用于驗(yàn)證電力系統(tǒng)的運(yùn)行穩(wěn)定性與負(fù)載適配能力。該測(cè)試能夠精準(zhǔn)測(cè)量不同電壓等級(jí)下的電網(wǎng)電壓波動(dòng)特性，以及系統(tǒng)長(zhǎng)期運(yùn)行的電壓穩(wěn)態(tài)性能。通過(guò)電壓跌落測(cè)試，可提前排查電網(wǎng)及配電系統(tǒng)的潛在故障隱患，保障電力系統(tǒng)持續(xù)、穩(wěn)定運(yùn)行。

電子設(shè)備研發(fā)領(lǐng)域

電壓跌落測(cè)試在電子設(shè)備研發(fā)領(lǐng)域同樣應(yīng)用廣泛。設(shè)備研發(fā)階段，該測(cè)試可驗(yàn)證產(chǎn)品在不同負(fù)載工況下的電壓穩(wěn)定性、供電可靠性，以及長(zhǎng)期連續(xù)工作的運(yùn)行穩(wěn)定性。借助電壓跌落測(cè)試，能夠有效排查電子設(shè)備的供電隱患與性能缺陷，為產(chǎn)品優(yōu)化迭代、性能升級(jí)提供可靠的數(shù)據(jù)依據(jù)。